SEMICONDUCTOR

Selbst machen. Aber nicht allein.

Die Inspektion von Halbleiterbauteilen erfordert häufig ein kleines Bildfeld, eine hohe optische Vergrößerung und eine reproduzierbare Bildaufnahme. Das kleinste zu prüfende Merkmal und die erforderliche Messgenauigkeit bestimmen die benötigte Kameraauflösung und die Auswahl des Objektivs für die Prüfung von Pins, Pads und anderen feinen Bauteildetails. Arbeitsabstand, Schärfentiefe, Bauteilpositionierung und Beleuchtung müssen deshalb gemeinsam anhand repräsentativer Bauteile beurteilt werden. Dies bietet Maschinenbauern, Systemintegratoren, Start-ups und technischen Entwicklungsteams eine praktische Grundlage für den Aufbau und die Erprobung eigener Machine-Vision-Inspektionsmodule.

Sobald die Anforderungen an die Bildaufnahme festgelegt sind, unterstützen Sie unsere Produktinformationen und technischen Fachartikel bei der Auswahl geeigneter Industriekameras, hochauflösender Machine-Vision-Objektive und Machine-Vision-Beleuchtungen. Außerdem zeigen wir, wie Sie ein Machine-Vision-System selbst integrieren. Über die Machine Vision Academy können Ingenieure das praktische Wissen aufbauen, das für die Konfiguration, Erprobung und Wartung ihrer Anwendungen erforderlich ist. Bei produktspezifischen Fragen bringen wir unsere Praxiserfahrung ein und beziehen bei Bedarf die Produkt- und Applikationskenntnisse unserer Lieferanten mit ein. Ihr Team behält die Kontrolle über die Entwicklung und Wartung des Inspektionssystems.